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本标准规定了液封直拉法砷化镓单晶及切割片的要求、试验方法、检验规则和标志、包装运输贮存等。
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB/T4326 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法GB/T8760 砷化镓单晶位错密度测量方法GB/T13387 电子材料晶片参考面长度测量方法GB/T14264 半导体材料术语GB/T14844 半导体材料牌号表示方法GJB1927 砷化镓单晶材料测试方法
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