【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Optoelectronicdevices-Semiconductorlasers
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.光电器件.半导体激光器
【标准号】:BSIEC60747-5-4-2006
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2006-06-30
【实施或试行日期】:2006-06-30
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:频带宽度;定义;分立器件;电性质和电现象;电子设备及元件;绝缘电阻;绝缘测试;集成电路;激光器;发光强度;测量技术;光电子器件;额定值;半导体器件
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofIEC60747dealswiththeterminology,theessentialratingsandcharacteristicsaswellasthemeasuringmethodsofsemiconductorlasers.
【中国标准分类号】:L54
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:32P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Techniquesforhigh-voltagetesting
【原文标准名称】:高压测试技术
【标准号】:IEEE4-1995
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:高电压;电气试验;耐高压试验;试验电压;试验技术;电气工程;试验;定义
【英文主题词】:Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricaltesting;Highvoltage;High-voltagetests;Testtechniques;Testing;Testingvoltages
【摘要】:
【中国标准分类号】:A55
【国际标准分类号】:19_080
【页数】:137P;A4
【正文语种】:英语